檢測(cè)項(xiàng)目

表面粗糙度檢測(cè)：通過(guò)AFM探針掃描樣品表面，獲取高度變化數(shù)據(jù)，計(jì)算平均粗糙度Ra和均方根粗糙度Rq等參數(shù)，用于定量評(píng)估材料表面的平滑程度和加工質(zhì)量，確保符合應(yīng)用要求。

納米硬度檢測(cè)：利用AFM探針施加微小載荷于樣品表面，測(cè)量壓痕深度與施加力的關(guān)系，計(jì)算局部納米級(jí)硬度值，適用于薄膜、軟材料等微小區(qū)域的力學(xué)性能分析。

摩擦系數(shù)檢測(cè)：在AFM橫向力模式下，測(cè)量探針與樣品表面的摩擦力，計(jì)算靜摩擦系數(shù)和動(dòng)摩擦系數(shù)，用于研究材料表面的摩擦磨損特性，優(yōu)化潤(rùn)滑和防護(hù)設(shè)計(jì)。

粘附力檢測(cè)：通過(guò)AFM探針與樣品表面的接觸-分離循環(huán)，測(cè)量粘附力大小，評(píng)估表面能或涂層附著力，常用于生物分子和聚合物材料的界面研究。

表面電勢(shì)檢測(cè)：使用導(dǎo)電AFM探針，掃描樣品表面電勢(shì)分布，檢測(cè)局部電荷或電位變化，適用于半導(dǎo)體器件和功能材料的電學(xué)性能表征。

磁力檢測(cè)：配備磁性涂層的AFM探針，檢測(cè)樣品表面的磁疇結(jié)構(gòu)和磁力分布，用于磁性存儲(chǔ)材料和自旋電子器件的研究與分析。

熱導(dǎo)率檢測(cè)：通過(guò)熱敏AFM探針，測(cè)量樣品表面的熱流和溫度梯度，計(jì)算局部熱導(dǎo)率，應(yīng)用于納米尺度熱管理材料和電子元件的性能評(píng)估。

彈性模量檢測(cè)：利用AFM力曲線技術(shù)，獲取探針與樣品相互作用的力-距離曲線，推導(dǎo)彈性模量值，適用于生物組織和軟物質(zhì)的力學(xué)特性研究。

表面形貌三維重建：基于AFM掃描數(shù)據(jù)，構(gòu)建高分辨率三維表面模型，可視化微觀形貌特征，用于缺陷識(shí)別、粗糙度分析和結(jié)構(gòu)模擬。

納米尺度缺陷檢測(cè)：通過(guò)AFM高精度掃描，識(shí)別表面納米級(jí)缺陷如劃痕、孔洞或污染，用于材料質(zhì)量控制和失效分析，確保產(chǎn)品可靠性。

檢測(cè)范圍

半導(dǎo)體材料：用于檢測(cè)晶圓、芯片等表面的形貌均勻性和缺陷分布，確保集成電路制造過(guò)程中的性能一致性和可靠性。

薄膜涂層：分析光學(xué)薄膜、保護(hù)涂層等功能性薄膜的表面粗糙度和厚度變化，優(yōu)化涂層工藝和應(yīng)用效果。

生物樣品：如細(xì)胞、細(xì)菌或蛋白質(zhì)分子，研究其表面形貌和力學(xué)性能，用于生物醫(yī)學(xué)診斷和藥物開(kāi)發(fā)研究。

聚合物材料：檢測(cè)塑料、橡膠等高分子材料的表面形態(tài)和納米結(jié)構(gòu)，評(píng)估加工工藝對(duì)材料性能的影響。

金屬材料：評(píng)估金屬表面的加工痕跡、腐蝕狀況或磨損特征，適用于航空航天和汽車工業(yè)的質(zhì)量監(jiān)控。

陶瓷材料：分析陶瓷表面的微觀結(jié)構(gòu)、晶界和粗糙度，用于電子陶瓷或結(jié)構(gòu)陶瓷的性能優(yōu)化。

復(fù)合材料：研究復(fù)合界面形貌和組分分布，評(píng)估層間結(jié)合強(qiáng)度，用于高性能復(fù)合材料的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證。

納米材料：如碳納米管或納米顆粒，表征其尺寸、形狀和表面特性，支持納米技術(shù)在能源和電子領(lǐng)域的應(yīng)用。

能源材料：如電池電極或太陽(yáng)能電池材料，檢測(cè)表面形貌以優(yōu)化電荷傳輸效率和耐久性，提升能源轉(zhuǎn)換性能。

環(huán)境樣品：如大氣顆粒物或污染物，分析表面形貌和組成，用于環(huán)境監(jiān)測(cè)和污染源追蹤研究。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E2524-2015《原子力顯微鏡校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)指南》：提供了AFM系統(tǒng)的校準(zhǔn)程序和方法，包括探針、掃描器和位移傳感器的校準(zhǔn)要求，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。

ISO 11039:2014《表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 原子力顯微鏡的校準(zhǔn)》：規(guī)定了AFM校準(zhǔn)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，涵蓋分辨率、線性度和穩(wěn)定性測(cè)試，適用于表面形貌測(cè)量的質(zhì)量控制。

GB/T 30099-2013《微納尺度表面形貌測(cè)量 原子力顯微鏡法》：中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，明確了AFM在微納尺度表面形貌測(cè)量中的技術(shù)要求、測(cè)試步驟和數(shù)據(jù)處理方法。

ISO 14577-4:2016《儀器化壓痕測(cè)試 第4部分：原子力顯微鏡法》：涉及AFM在納米壓痕測(cè)試中的應(yīng)用，規(guī)范了硬度、模量等力學(xué)參數(shù)的測(cè)量程序。

ASTM E2859-2011《原子力顯微鏡圖像分辨率的測(cè)試方法》：定義了AFM圖像分辨率的評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試流程，確保圖像質(zhì)量滿足科研和工業(yè)需求。

檢測(cè)儀器

原子力顯微鏡：核心檢測(cè)儀器，通過(guò)微懸臂探針掃描樣品表面，實(shí)現(xiàn)形貌、力、電等參數(shù)的高分辨率測(cè)量，是表面分析的基礎(chǔ)設(shè)備。

掃描探針：AFM的關(guān)鍵組件，包括接觸式、輕敲式等類型，用于與樣品相互作用，影響檢測(cè)模式的選擇和結(jié)果精度。

壓電掃描器：控制探針或樣品臺(tái)的納米級(jí)移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)精確掃描和定位，是AFM系統(tǒng)運(yùn)動(dòng)控制的核心部分。

光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)：利用激光和位置敏感探測(cè)器，監(jiān)測(cè)微懸臂偏轉(zhuǎn)，將機(jī)械信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，用于力或形貌數(shù)據(jù)的采集。

環(huán)境控制單元：維持檢測(cè)環(huán)境的溫度、濕度和振動(dòng)穩(wěn)定性，減少外界干擾，提高AFM測(cè)量的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。