ASTM E915-2020《 Test Method for Verifying the Alignment of X-Ray Diffraction Instrumentation》:規(guī)范X射線衍射儀器的校準與對準驗證程序,確保衍射角度測量精度,為結(jié)晶度分析提供基礎(chǔ)設(shè)備可靠性保障。
ISO 11357-3:2018《Plastics — Differential scanning calorimetry (DSC) — Part 3: Determination of temperature and enthalpy of melting and crystallization》:國際標準化組織發(fā)布的熱分析標準,明確熔融與結(jié)晶過程的熱焓測定方法,適用于聚合物提取物結(jié)晶度計算。
ASTM E1421-2021《 Practice for Describing and Measuring Performance of Fourier Transform Infrared (FT-IR) Spectrometers》:提供傅里葉變換紅外光譜儀的性能描述與測量指南,支持結(jié)晶度相關(guān)譜帶分析的儀器性能驗證。
ISO 17862:2013《Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth profiling for arsenic in silicon》:雖聚焦元素分析,但可擴展至結(jié)晶度表面表征,規(guī)范質(zhì)譜技術(shù)的應(yīng)用條件。