檢測項(xiàng)目

厚度均勻性檢測：測量SiO2襯底在不同位置的厚度變化，確保光學(xué)路徑長度一致，避免光波導(dǎo)性能波動和信號失真。

折射率測量：確定襯底材料的折射率數(shù)值， critical for light propagation control in waveguides, affecting signal transmission efficiency and device performance.

表面粗糙度檢測：評估襯底表面光滑程度，高粗糙度會導(dǎo)致光散射增加和損耗升高，影響波導(dǎo)的插入損耗和回波損耗。

缺陷密度檢測：計(jì)數(shù)表面和體內(nèi)的缺陷如劃痕、氣泡和雜質(zhì)，高缺陷密度會引光散射和器件故障，降低可靠性。

化學(xué)成分分析：驗(yàn)證SiO2襯底的化學(xué)純度和元素組成，雜質(zhì)含量影響光學(xué)性能和長期穩(wěn)定性，需嚴(yán)格控制以確保一致性。

熱膨脹系數(shù)檢測：測量襯底在溫度變化下的尺寸穩(wěn)定性，不匹配的熱膨脹會導(dǎo)致應(yīng)力裂紋和性能退化 in thermal cycling environments.

機(jī)械強(qiáng)度測試：評估抗壓和抗彎強(qiáng)度，確保襯底能承受加工和操作中的機(jī)械應(yīng)力，防止破裂和失效。

光學(xué)均勻性檢測：檢查折射率在襯底整體的分布均勻性，不均勻性會引起相位誤差和模式失真 in waveguide devices.

介電常數(shù)測量：確定材料的介電特性，影響電磁波傳播和電容效應(yīng)， critical for high-frequency and integrated optical applications.

濕度敏感性測試：評估襯底在潮濕環(huán)境下的性能變化，吸濕可能導(dǎo)致尺寸膨脹和光學(xué)性質(zhì) alteration, affecting device longevity.

表面能測量：分析表面潤濕性和粘附特性，影響涂層和 bonding processes in waveguide fabrication, ensuring proper adhesion.

應(yīng)力雙折射檢測：測量內(nèi)部應(yīng)力引起的雙折射效應(yīng)，高應(yīng)力會 distort light polarization and degrade performance in polarization-sensitive devices.

檢測范圍

單晶SiO2襯底：用于高精度光波導(dǎo)器件，具有優(yōu)異的晶格結(jié)構(gòu)和光學(xué) homogeneity, suitable for applications requiring low loss and high stability.

多晶SiO2襯底：應(yīng)用于成本敏感的光學(xué)組件，多晶結(jié)構(gòu)可能引入 grain boundaries, affecting mechanical and optical properties, requiring rigorous檢測.

熔融石英襯底：常見于光通信和激光系統(tǒng)，具有低 thermal expansion and high purity, but surface quality and defects need careful assessment.

光通信器件襯底：用于光纖通信中的波導(dǎo)和調(diào)制器，需確保低插入損耗和高可靠性 to maintain signal integrity over long distances.

傳感器應(yīng)用襯底：集成于光學(xué)傳感器中，如加速度計(jì)和 gyroscopes, where dimensional stability and surface finish affect sensitivity and accuracy.

激光器襯底：作為激光二極管和固體激光器的基板，要求高 optical quality and thermal management to prevent mode hopping and efficiency loss.

集成光學(xué)電路襯底：用于光子集成電路，需要 precise thickness control and low defect density to enable complex light manipulation and routing.

微波波導(dǎo)襯底：應(yīng)用于高頻電磁波傳輸，SiO2襯底的 dielectric properties must be uniform to minimize signal attenuation and dispersion.

醫(yī)療光學(xué)設(shè)備襯底：用于內(nèi)窺鏡和成像系統(tǒng)，生物相容性和表面 smoothness are critical to prevent contamination and ensure clear imaging.

航空航天光學(xué)系統(tǒng)襯底：暴露于極端環(huán)境，要求 high mechanical strength, thermal stability, and radiation resistance to maintain performance in harsh conditions.

消費(fèi)電子產(chǎn)品襯底：如智能手機(jī)中的光學(xué)組件，需 lightweight and durable with consistent optical properties for mass production reliability.

科研實(shí)驗(yàn)襯底：用于實(shí)驗(yàn)室光波導(dǎo)研究， versatile applications demand accurate characterization of all parameters for experimental validation.

檢測標(biāo)準(zhǔn)

ASTM F1048-87 Standard Test Method for Measuring the Effective Surface Roughness of Optical Components：提供了光學(xué)組件表面粗糙度的測量指南，適用于SiO2襯底表面質(zhì)量評估，確保一致性和可比性。

ISO 10110-7 Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 7: Surface texture; roughness：國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范光學(xué)元件表面紋理的表示方法，用于定義和檢測襯底表面粗糙度參數(shù)。

GB/T 11168-1989 光學(xué)玻璃化學(xué)穩(wěn)定性試驗(yàn)方法：中國國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定光學(xué)材料化學(xué)穩(wěn)定性的測試程序，適用于SiO2襯底的耐化學(xué)性評估。

ASTM E228-17 Standard Test Method for Linear Thermal Expansion of Solid Materials with a Push-Rod Dilatometer：描述了固體材料線性熱膨脹系數(shù)的測定方法，用于襯底尺寸穩(wěn)定性檢測。

ISO 14703 Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of surface roughness：國際標(biāo)準(zhǔn)針對精細(xì)陶瓷表面粗糙度的測量，可借鑒用于SiO2襯底表面形貌分析。

GB/T 1800.1-2020 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 線性尺寸公差 第1部分: 公差、偏差和配合的基礎(chǔ)：中國標(biāo)準(zhǔn)提供尺寸公差的通用規(guī)則，適用于襯底厚度均勻性檢測的基準(zhǔn)。

ASTM B924-02(2020) Standard Test Method for Measurement of Surface Roughness of Ceramics：專門針對陶瓷材料表面粗糙度的測試方法，用于SiO2襯底表面質(zhì)量評估。

ISO 1302 Geometrical product specifications (GPS) — Indication of surface texture in technical product documentation：規(guī)范技術(shù)文檔中表面紋理的指示方法，指導(dǎo)襯底檢測中的表面特征描述。

GB/T 4340.1-2009 金屬材料 維氏硬度試驗(yàn) 第1部分: 試驗(yàn)方法：雖針對金屬，但可 adapted for SiO2襯底機(jī)械強(qiáng)度測試，提供硬度測量參考。

ASTM D1003-21 Standard Test Method for Haze and Luminous Transmittance of Transparent Plastics：針對透明材料透光性測試，可用于襯底光學(xué)均勻性評估的輔助方法。

檢測儀器

橢偏儀：用于測量薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)如折射率，通過分析偏振光變化提供非接觸式檢測，確保襯底光學(xué)參數(shù)準(zhǔn)確性。

表面輪廓儀：通過觸針或光學(xué)掃描測量表面形貌和粗糙度，提供高分辨率數(shù)據(jù)用于評估襯底表面質(zhì)量和平整度。

光譜儀：分析材料的光學(xué)特性如透射率和反射率，用于檢測襯底在特定波長下的性能，確保符合應(yīng)用要求。

顯微鏡：提供放大視圖以檢測表面缺陷和微觀結(jié)構(gòu)，結(jié)合圖像分析軟件計(jì)數(shù)缺陷密度，評估襯底完整性。

熱膨脹儀：測量材料在溫度變化下的尺寸變化，用于確定襯底的熱膨脹系數(shù)，評估 thermal stability under operational conditions.

萬能材料試驗(yàn)機(jī)：進(jìn)行機(jī)械強(qiáng)度測試如抗壓和抗彎，通過施加 controlled force 測量襯底的機(jī)械性能，防止失效。

X射線衍射儀：分析晶體結(jié)構(gòu)和應(yīng)力，用于檢測襯底的晶格缺陷和內(nèi)部應(yīng)力，確保結(jié)構(gòu)完整性。

檢測報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進(jìn)的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。