檢測(cè)項(xiàng)目

純度測(cè)定、水分含量、酸度值、氯離子濃度、氟離子濃度、金屬雜質(zhì)總量、鐵含量測(cè)定、銅含量測(cè)定、鈉含量測(cè)定、鉀含量測(cè)定、鋁含量測(cè)定、鎳含量測(cè)定、鋅含量測(cè)定、總硫含量、游離硅含量、不揮發(fā)物殘留量、密度測(cè)試、沸點(diǎn)測(cè)定、熔點(diǎn)測(cè)定、蒸氣壓測(cè)試、閃點(diǎn)測(cè)試、爆炸極限測(cè)定、熱穩(wěn)定性評(píng)估、水解穩(wěn)定性測(cè)試、腐蝕性試驗(yàn)、氣體成分分析、顆粒物濃度測(cè)定、氧含量測(cè)定、氮含量測(cè)定、二氧化碳?xì)埩袅?h2>檢測(cè)范圍高純?nèi)柰闅怏w（99.999%）、電子級(jí)三氟硅烷液體（99.99%）、工業(yè)級(jí)三氟硅烷原料（99.9%）、半導(dǎo)體沉積用三氟硅烷試劑（ULSI級(jí)）、光伏薄膜制備專用三氟硅烷（SolarGrade）、特種氣體混合組分中的三氟硅烷標(biāo)樣（NIST可追溯）、儲(chǔ)運(yùn)鋼瓶殘留氣體分析樣品（壓力容器型）、反應(yīng)釜合成中間體樣品（批次抽樣）、尾氣回收凈化處理樣品（環(huán)境監(jiān)測(cè)型）、納米材料合成用三氟硅烷前驅(qū)體（納米級(jí)純度）、醫(yī)藥中間體合成原料（GMP級(jí)）、低溫儲(chǔ)罐液態(tài)樣品（-50℃保存型）、高溫裂解產(chǎn)物分析樣品（500℃處理型）、水解反應(yīng)副產(chǎn)物分析樣本（水相萃取型）、腐蝕試驗(yàn)后金屬表面殘留物（SEM-EDS分析樣本）、氣相沉積薄膜表面成分分析樣本（XPS測(cè)試專用）、危險(xiǎn)品運(yùn)輸合規(guī)性驗(yàn)證樣本（DOT認(rèn)證型）、工藝管道在線監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)樣本（過(guò)程分析型）、廢氣處理吸附劑負(fù)載樣本（活性炭富集型）、實(shí)驗(yàn)室合成小試樣品（毫克級(jí)微量分析）、工業(yè)廢液回收提純樣本（蒸餾濃縮型）、包裝材料滲透性測(cè)試樣本（加速老化試驗(yàn)型）、儲(chǔ)存穩(wěn)定性長(zhǎng)期跟蹤樣本（年度對(duì)比分析）、應(yīng)急泄漏事故現(xiàn)場(chǎng)采集樣本（環(huán)境應(yīng)急監(jiān)測(cè)型）、工藝水循環(huán)系統(tǒng)污染監(jiān)測(cè)樣本（離子色譜專用）、設(shè)備清洗殘留驗(yàn)證樣本（擦拭取樣法獲得）、原料供應(yīng)商批次驗(yàn)收樣本（第三方盲樣考核）、客戶投訴退貨復(fù)檢樣本（爭(zhēng)議仲裁分析）、科研機(jī)構(gòu)合作研究樣本（方法開發(fā)驗(yàn)證型）

檢測(cè)方法

氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法（GC-MS）用于有機(jī)物雜質(zhì)定性與定量分析；電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）實(shí)現(xiàn)ppb級(jí)金屬雜質(zhì)精準(zhǔn)測(cè)定；卡爾費(fèi)休庫(kù)侖法通過(guò)電解反應(yīng)精確測(cè)量微量水分；離子色譜法分離并定量陰離子污染物；紫外可見分光光度法測(cè)定特定官能團(tuán)濃度；激光粒度儀分析懸浮顆粒物粒徑分布；靜態(tài)壓力法測(cè)量蒸氣壓參數(shù)；差示掃描量熱儀（DSC）評(píng)估熱分解特性；加速量熱儀（ARC）測(cè)試自反應(yīng)危險(xiǎn)性；X射線熒光光譜法快速篩查元素組成；氣相色譜-火焰離子化檢測(cè)器（GC-FID）進(jìn)行主成分定量；頂空氣相色譜法測(cè)定揮發(fā)性副產(chǎn)物；電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）完成多元素同步分析；紅外光譜法鑒定分子結(jié)構(gòu)特征峰；庫(kù)爾特計(jì)數(shù)器統(tǒng)計(jì)微粒數(shù)量濃度；動(dòng)態(tài)光散射儀評(píng)估溶液分散穩(wěn)定性；熱重分析儀（TGA）測(cè)定揮發(fā)分與灰分；爆炸極限測(cè)試儀模擬可燃性參數(shù)；電化學(xué)工作站進(jìn)行腐蝕電流密度測(cè)量

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T37244-2018電子工業(yè)用氣體三氟硅烷純度的測(cè)定ASTME260-2021氣相色譜標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程ISO21258:2010氣體中金屬雜質(zhì)含量的測(cè)定JISK0225:2015高純硅化合物中陰離子分析方法HG/T5332-2018工業(yè)用三氟硅烷技術(shù)要求SEMIC3.45-2020半導(dǎo)體工藝氣體中顆粒物控制規(guī)范IEC60754-2:2011材料燃燒時(shí)釋放氣體的測(cè)試方法USP<467>殘留溶劑測(cè)定通則EN14624:2020可燃?xì)怏w爆炸極限測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)GB/T6283-2008化工產(chǎn)品中水分含量的測(cè)定

檢測(cè)儀器

高分辨率氣相色譜儀配備毛細(xì)管柱實(shí)現(xiàn)復(fù)雜組分分離；四級(jí)桿質(zhì)譜儀提供分子結(jié)構(gòu)確證功能；百萬(wàn)分之一天平保證微量稱量準(zhǔn)確性；全自動(dòng)電位滴定儀完成酸堿度精確測(cè)量；電感耦合等離子體質(zhì)譜儀達(dá)到ppt級(jí)檢出限；激光拉曼光譜儀用于分子振動(dòng)模式識(shí)別；低溫恒溫槽控制樣品預(yù)處理溫度；防爆型蒸氣壓測(cè)試儀滿足危險(xiǎn)品實(shí)驗(yàn)安全要求；全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀表征材料吸附特性；傅里葉變換紅外光譜儀采集特征吸收光譜；在線氣體分析系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)工藝過(guò)程實(shí)時(shí)監(jiān)控；超凈采樣裝置防止環(huán)境交叉污染；恒溫恒濕箱模擬長(zhǎng)期儲(chǔ)存條件；真空脫氣裝置去除干擾性揮發(fā)性物質(zhì)；納米顆粒計(jì)數(shù)器符合ISO21501校準(zhǔn)規(guī)范；高溫高壓反應(yīng)釜進(jìn)行加速老化試驗(yàn)；X射線衍射儀鑒定晶體結(jié)構(gòu)變化；微波消解儀完成樣品前處理消解

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。