檢測項目

釷鎢棒成分檢測體系包含三大核心模塊：主量元素定量分析、微量元素篩查及材料結構表征。主量元素檢測重點測定鎢基體含量（W≥99.5%）與氧化釷（ThO?）摻雜比例（典型值1.0%-4.0%），其中釷元素分布均勻性需通過多點取樣驗證。微量元素檢測涵蓋Fe、Ni、Mo等金屬雜質及C、O、N等非金屬夾雜物，其總量應控制在≤0.3%范圍內(nèi)。結構表征涉及晶粒度評級（ASTM E112）、孔隙率測定（ISO 2738）及微觀形貌分析（SEM-EDS聯(lián)用）。

檢測范圍

本檢測方案適用于各類釷鎢合金制品：

1. 電子工業(yè)用陰極材料：ThO?含量1.5%-2.5%，直徑Φ0.5mm-Φ6.0mm棒材

2. 焊接電極材料：ThO?含量0.8%-3.0%，長度50-300mm標準件

3. 高溫爐構件：ThO?含量3.0%-4.0%，密度≥18.5g/cm3的燒結制品

4. 核工業(yè)屏蔽材料：ThO?含量≤1.0%的低放射性特種合金

特殊形態(tài)制品需根據(jù)GB/T 4324標準調整取樣方案，粉末冶金制品需增加松裝密度（ISO 3923）與流動性（ASTM B213）測試。

檢測方法

主量元素分析采用波長色散X射線熒光光譜法（WDXRF），依據(jù)ISO 17025建立校準曲線：

? 鎢基體測定選用LiF200晶體與SC探測器組合

? ThO?定量使用PX7晶體配合流氣正比計數(shù)器

微量元素檢測執(zhí)行ASTM E1479標準：

? ICP-OES法測定Fe、Ni等金屬雜質（檢出限≤5ppm）

? 惰氣熔融法測定O/N含量（LECO ONH836系統(tǒng)）

? 高頻燃燒紅外法測定C/S元素（CS844系統(tǒng)）

結構分析采用JSM-7900F場發(fā)射掃描電鏡配合Oxford EDS系統(tǒng)進行微區(qū)成分映射（空間分辨率≤1μm），晶粒度評級依據(jù)截距法在500×視場下統(tǒng)計。

檢測儀器

1. 波長色散X射線熒光光譜儀：Rigaku ZSX Primus IV（Rh靶端窗管）

配備10位自動進樣器與真空光路系統(tǒng)（＜10Pa）

2. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀：PerkinElmer Avio 550 Max

雙觀測模式（軸向/徑向），波長范圍165-900nm

3. 掃描電子顯微鏡：JEOL JSM-7900F

分辨率1nm@15kV，配備BSE/CBSD雙探測器

4. X射線衍射儀：Bruker D8 ADVANCE

Cu靶光源（λ=1.5406?），LynxEye陣列探測器

5. 氣體分析系統(tǒng)：LECO ONH836+CS844聯(lián)用平臺

脈沖加熱爐溫度＞3000℃，紅外池精度±0.1ppm

所有設備均通過 校準認證，測量不確定度符合JJF 1059要求。

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務：協(xié)助相關部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關部門提供科學、公正、準確的檢測數(shù)據(jù)。

大學論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學技術研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標準，選擇適當?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術。同時，我們將積極跟進新的技術和標準，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。