檢測項目

瓷粉成分檢測體系包含三大核心模塊：主量元素定量分析、微量元素痕量檢測及礦物相結構表征。主量元素模塊重點測定SiO?(40-75%)、Al?O?(15-35%)、K?O+Na?O(3-12%)等氧化物含量配比；微量元素模塊要求檢出限達ppm級，重點監(jiān)控Fe?O?(＜0.5%)、TiO?(＜0.3%)等著色元素；礦物相模塊通過晶型識別判定高嶺石、石英、長石等礦物的結晶度與比例分布。

特殊應用場景需增加功能性指標：電子陶瓷用瓷粉需測定BaTiO?純度(＞99.9%)及稀土摻雜量；生物陶瓷重點控制Ca/P摩爾比(1.67±0.02)；結構陶瓷需測定ZrO?相變增韌效果及Y?O?穩(wěn)定劑含量。

檢測范圍

本檢測體系適用于三大類瓷粉材料：傳統(tǒng)陶瓷原料（高嶺土、瓷石、長石等）、工業(yè)陶瓷原料（氧化鋁、碳化硅、氮化硅等）、特種陶瓷材料（壓電陶瓷、透明陶瓷等）。具體涵蓋粒徑范圍0.1-100μm的粉體材料，包括但不限于水熱合成粉體、溶膠凝膠法制備的超細粉體及機械粉碎加工的微米級粉體。

針對不同燒結工藝需求：常壓燒結用瓷粉需控制粒徑分布D50=1-5μm；熱壓燒結材料要求D90＜0.8μm；注射成型用喂料需同步測定粉體振實密度(≥2.8g/cm3)與比表面積(5-15m2/g)。

檢測方法

主量元素分析采用X射線熒光光譜法（XRF）結合熔片制樣技術，依據(jù)GB/T 16597-2019標準建立校準曲線；微量元素測定使用電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES），配備超聲波霧化器將檢出限提升至0.01ppm；礦物相鑒定執(zhí)行ASTM D5380標準，采用全譜擬合Rietveld法定量分析XRD衍射數(shù)據(jù)。

特殊指標采用專屬方法：鋯基陶瓷的四方相含量通過Raman光譜147cm?1特征峰積分計算；羥基磷灰石結晶度采用FTIR在630cm?1/1030cm?1吸收峰強度比判定；介電陶瓷的Ba/Ti比通過電子探針微區(qū)分析（EPMA）實現(xiàn)μm級定位測試。

檢測儀器

配置高精度分析設備集群：波長色散型XRF光譜儀（Rh靶, 4kW）配備10位自動進樣系統(tǒng)；垂直炬管ICP-OES系統(tǒng)配置中階梯光柵分光器實現(xiàn)167-852nm全譜覆蓋；多功能X射線衍射儀配備Cu靶旋轉陽極（18kW）及高速一維探測器。

輔助設備包括：激光粒度分析儀（測量范圍0.01-3500μm）、BET比表面分析儀（精度±1%）、高溫熱膨脹儀（最高1600℃）。關鍵儀器均通過NIST標準物質(zhì)定期校準：XRF使用SRM 610玻璃標樣校準元素通道；ICP-OES用多元素混合標準溶液建立標準加入法工作曲線。

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務：協(xié)助相關部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關部門提供科學、公正、準確的檢測數(shù)據(jù)。

大學論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學技術研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標準，選擇適當?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術。同時，我們將積極跟進新的技術和標準，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。