檢測(cè)項(xiàng)目

表面完整性檢測(cè)包含六大核心指標(biāo)：表面形貌特征參數(shù)測(cè)量涉及三維粗糙度（Sa/Sq）、波紋度（Wa/Wq）及輪廓算術(shù)平均偏差（Ra）；殘余應(yīng)力分析需測(cè)定表層及次表層應(yīng)力分布狀態(tài)；顯微硬度梯度測(cè)試要求從表層至基體進(jìn)行納米壓痕連續(xù)測(cè)量；微觀組織觀測(cè)涵蓋晶粒尺寸、相變層深度及非晶化程度；裂紋與缺陷檢測(cè)包括表面開口裂紋深度測(cè)量和亞表面缺陷三維重構(gòu)；耐腐蝕性能評(píng)估需結(jié)合鹽霧試驗(yàn)與電化學(xué)阻抗譜分析。

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)體系適用于金屬材料（鈦合金/高溫合金/工具鋼）、陶瓷材料（氧化鋯/碳化硅）及復(fù)合材料（CFRP/CMMC）的加工表面評(píng)估。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：機(jī)械制造領(lǐng)域的精密齒輪齒面與軸承滾道；航空航天領(lǐng)域的渦輪葉片榫槽與發(fā)動(dòng)機(jī)燃燒室內(nèi)壁；醫(yī)療器械領(lǐng)域的人工關(guān)節(jié)球面與手術(shù)刀具刃口；電子工業(yè)領(lǐng)域的芯片封裝基板與連接器觸點(diǎn)；能源裝備領(lǐng)域的核電主泵密封面與風(fēng)電齒輪箱齒圈。

檢測(cè)方法

白光干涉輪廓術(shù)依據(jù)ISO25178標(biāo)準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)亞微米級(jí)三維形貌重建；X射線衍射法（XRD）通過sinψ法計(jì)算殘余應(yīng)力張量；聚焦離子束（FIB）結(jié)合EBSD技術(shù)解析表層晶格畸變；激光超聲法實(shí)現(xiàn)非接觸式彈性模量梯度測(cè)量；共聚焦顯微鏡執(zhí)行熒光染色法孔隙率定量分析；掃描電化學(xué)顯微鏡（SECM）進(jìn)行局部腐蝕電位映射。

檢測(cè)儀器

三維光學(xué)輪廓儀（ZygoNewView9000）配置20~100物鏡組實(shí)現(xiàn)0.1nm垂直分辨率；X射線應(yīng)力分析儀（ProtoLXRD）配備Cr-Kα輻射源與二維探測(cè)器；納米壓痕儀（AgilentG200）支持連續(xù)剛度測(cè)量模式；激光共聚焦顯微鏡（OlympusLEXTOLS5000）具備405nm激光光源與光譜分析模塊；場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FEIVerios460L）集成EDS/EBSD雙探測(cè)系統(tǒng)；超聲表面完整性檢測(cè)儀（UltraScanSX）采用10MHz聚焦探頭實(shí)現(xiàn)亞表面缺陷成像

檢測(cè)報(bào)告作用

檢測(cè)報(bào)告作用

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性高;工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。