檢測項目

衍射角測量重復(fù)性：評估同一條件下多次測量的角度值離散程度，檢測參數(shù)包括標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.002°、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.1%。

角度偏差校準(zhǔn)：對比儀器測量值與標(biāo)準(zhǔn)參考值的差異，檢測參數(shù)為絕對偏差≤0.005°（2θ范圍10°~80°）。

波長校準(zhǔn)一致性：驗證衍射儀所用單色器波長輸出與標(biāo)稱值的吻合度，檢測參數(shù)為波長誤差≤0.001nm（Cu Kα靶）。

探測器線性響應(yīng)：測試探測器輸出信號與入射X射線強度的線性關(guān)系，檢測參數(shù)為線性相關(guān)系數(shù)≥0.999（強度范圍103~10?計數(shù)/s）。

溫度漂移影響：測量環(huán)境溫度變化對衍射角測量的影響程度，檢測參數(shù)為溫度每變化1℃，角度漂移≤0.0005°（溫度范圍20±5℃）。

機械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性：評估衍射儀旋轉(zhuǎn)軸、樣品臺等部件的機械精度保持能力，檢測參數(shù)為軸間垂直度偏差≤0.003°、樣品臺平面度≤0.002mm。

數(shù)據(jù)采集分辨率：檢測儀器對衍射角信號的分辨能力，檢測參數(shù)為最小可檢測角度步長≤0.0005°（數(shù)字量化位數(shù)≥16bit）。

校準(zhǔn)源強度穩(wěn)定性：驗證校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)晶體或放射性源的輸出強度波動，檢測參數(shù)為強度變化率≤0.5%/h（連續(xù)工作4小時）。

多軸聯(lián)動精度：測試多維衍射系統(tǒng)中各運動軸協(xié)同運動的定位準(zhǔn)確性，檢測參數(shù)為聯(lián)動定位誤差≤0.003°（三維聯(lián)動模式下）。

環(huán)境振動敏感性：評估外界振動對衍射角測量的干擾程度，檢測參數(shù)為振動幅值≥1μm時，角度測量偏差≤0.001°（振動頻率10~100Hz）。

檢測范圍

X射線衍射儀：用于材料晶體結(jié)構(gòu)分析的實驗室級X射線衍射系統(tǒng)，覆蓋粉末衍射、單晶衍射等模式。

電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）：基于掃描電子顯微鏡的晶體取向分析設(shè)備，應(yīng)用于微區(qū)結(jié)構(gòu)表征。

同步輻射X射線衍射裝置：利用同步輻射光源的高亮度X射線進行納米尺度晶體結(jié)構(gòu)分析的大型科研設(shè)備。

薄膜衍射儀：針對薄膜材料的掠入射X射線衍射系統(tǒng)，用于薄膜厚度、晶格常數(shù)測量。

微區(qū)X射線衍射儀（μ-XRD）：配備聚焦X射線束的微區(qū)分析設(shè)備，適用于微小區(qū)域（≤10μm）的晶體結(jié)構(gòu)檢測。

工業(yè)X射線衍射在線檢測設(shè)備：集成于生產(chǎn)線用于實時監(jiān)測材料相變的衍射系統(tǒng)，支持高溫、高粉塵環(huán)境。

中子衍射儀：利用中子束進行晶體結(jié)構(gòu)分析的設(shè)備，適用于輕元素（如氫、鋰）的衍射研究。

便攜式X射線衍射儀：小型化、可移動的衍射系統(tǒng)，用于現(xiàn)場快速材料成分與結(jié)構(gòu)分析。

多晶X射線衍射儀（粉末衍射儀）：常規(guī)實驗室用粉末樣品衍射分析設(shè)備，支持物相定性定量分析。

單色器校準(zhǔn)裝置：用于校準(zhǔn)衍射儀單色器波長輸出的專用設(shè)備，配套標(biāo)準(zhǔn)晶體與角度測量模塊。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E915-16《X射線衍射儀角度校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試驗方法》：規(guī)定X射線衍射儀2θ角度測量的校準(zhǔn)程序與技術(shù)要求。

ISO 20998-1:2019《微束分析-電子背散射衍射-第1部分：儀器性能的表征》：規(guī)范電子背散射衍射系統(tǒng)的角度校準(zhǔn)與性能評估方法。

GB/T 16594-2009《微米級長度的掃描電鏡測量方法》：涉及掃描電子顯微鏡及EBSD系統(tǒng)的角度測量精度校準(zhǔn)要求。

GB/T 33260.1-2016《電子背散射衍射分析方法 第1部分：總則》：規(guī)定電子背散射衍射分析中儀器校準(zhǔn)的基本原則與方法。

ISO 14997:2000《表面特征的圖像分析-方法》：適用于EBSD系統(tǒng)中衍射花樣圖像的角度測量與分析方法。

ASTM E2905/E2905M-17《同步輻射X射線衍射儀角度校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)指南》：針對同步輻射光源的衍射儀角度校準(zhǔn)的技術(shù)指南。

GB/T 32172-2015《X射線熒光光譜儀 性能測試方法》：包含X射線衍射相關(guān)儀器的角度測量性能測試要求。

ISO 19638:2016《電子顯微鏡-掃描電子顯微鏡（SEM）的校準(zhǔn)》：涉及SEM及EBSD系統(tǒng)的幾何校準(zhǔn)，包括角度測量部分。

ASTM D5766/D5766M-18《聚合物結(jié)晶度的X射線衍射測定標(biāo)準(zhǔn)試驗方法》：規(guī)定聚合物結(jié)晶度測試中衍射儀角度校準(zhǔn)的要求。

GB/T 21838-2008《金屬材料 線材 單軸試樣 彎曲試驗方法》：雖主要針對彎曲試驗，但涉及衍射儀輔助檢測時的角度校準(zhǔn)參考。

檢測儀器

高精度角度編碼器：采用多極光電信號的旋轉(zhuǎn)角度測量裝置，分辨率可達(dá)0.0001°，用于校準(zhǔn)衍射儀旋轉(zhuǎn)軸的角度輸出精度。

標(biāo)準(zhǔn)晶體校準(zhǔn)片：經(jīng)計量認(rèn)證的多晶或單晶標(biāo)準(zhǔn)樣品，具有已知精確衍射角的參考面，用于標(biāo)定衍射儀的2θ角度基準(zhǔn)。

多通道探測器陣列：包含多個獨立探測單元的半導(dǎo)體或閃爍體探測器，可同時采集不同角度的衍射信號，用于評估探測器線性響應(yīng)與角度覆蓋范圍。

環(huán)境振動隔離系統(tǒng)：通過主動或被動隔振技術(shù)（如空氣彈簧、壓電陶瓷作動器）將振動幅值降低至0.1μm以下的平臺，用于排除環(huán)境振動對衍射角測量的干擾。

波長校準(zhǔn)單色器：集成晶體單色器與角度調(diào)整機構(gòu)的裝置，可將入射X射線單色化并提供已知波長的參考光束，用于校準(zhǔn)衍射儀的單色器波長輸出。

微位移測量系統(tǒng)：基于激光干涉原理的高精度位移測量設(shè)備，分辨率可達(dá)0.1nm，用于測量衍射儀樣品臺或探測器移動部件的微小位移誤差。

恒溫恒濕箱：可精確控制溫度（±0.1℃）和濕度（±1%RH）的環(huán)境試驗箱，用于模擬不同環(huán)境條件下的衍射儀角度漂移測試。

數(shù)據(jù)采集卡：支持高速數(shù)據(jù)采集（采樣率≥1MHz）與16bit以上分辨率的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊，用于精確記錄衍射角信號的時間序列數(shù)據(jù)。

標(biāo)準(zhǔn)輻射源：經(jīng)國家計量機構(gòu)校準(zhǔn)的X射線管或放射性同位素源，輸出強度穩(wěn)定且波長已知，用于校準(zhǔn)衍射儀的輻射強度與角度關(guān)聯(lián)特性。

自動角度校準(zhǔn)平臺：配備步進電機與閉環(huán)控制系統(tǒng)的可編程旋轉(zhuǎn)平臺，支持預(yù)設(shè)角度點的精確運動，用于自動化角度校準(zhǔn)流程的實施。

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術(shù)。同時，我們將積極跟進新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。