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項目咨詢
鋁含量測定:采用滴定法檢測純度,測量范圍99.90%~99.999%,精度±0.001%
硅元素分析:電感耦合等離子體光譜法檢測,檢出限0.0005%,范圍0.0005%~0.010%
鐵雜質(zhì)檢測:原子吸收光譜法測定,精度±0.0003%,標準范圍0.001%~0.050%
銅含量測試:光電直讀光譜儀檢測,分辨率0.0001%,允許偏差±0.0002%
鎂元素測定:X射線熒光光譜法分析,檢出限0.0003%,范圍0.0003%~0.020%
鋅雜質(zhì)控制:質(zhì)譜法測定痕量鋅,靈敏度0.0001%,最大限值0.001%
氫含量檢測:熔融提取法測定,精度0.01ml/100g,標準范圍0.08~0.15ml/100g
晶粒度評級:金相顯微鏡觀察,依據(jù)ASTM E112標準,級別評定1~8級
布氏硬度測試:載荷500kgf,壓頭直徑10mm,范圍20~35HB
拉伸強度試驗:電子萬能試驗機檢測,速率2mm/min,強度范圍70~100MPa
導電率測定:渦流電導儀檢測,精度±0.5%IACS,范圍55%~62%IACS
表面清潔度:掃描電鏡能譜分析,污染物檢出限0.1μm,符合ISO 20844
氧化膜厚度:橢偏儀測量,分辨率0.1nm,標準范圍5~20nm
航空航天用鋁錠:發(fā)動機部件原材料,要求Fe<0.003%,Si<0.002%
電子級靶材基材:半導體鍍膜原料,純度>99.995%,晶粒度6級以上
電容器用高純鋁:電解電容器陽極箔原料,氫含量<0.10ml/100g
核工業(yè)屏蔽材料:中子吸收組件原料,硼含量控制<0.0001%
超導材料基體:低溫超導載體,電阻率<2.69nΩ·m
真空鍍膜材料:光學鍍膜蒸發(fā)源,表面粗糙度Ra<0.8μm
高反射鏡基材:激光反射鏡基底,平面度<λ/10@632nm
電解電容器箔:高壓陽極箔原料,要求鋅<0.001%,銅<0.001%
磁控濺射靶材:顯示面板鍍膜原料,純度99.999%,氧含量<50ppm
精密儀器部件:光學平臺基座材料,熱膨脹系數(shù)(23.1±0.5)×10??/K
粒子加速器組件:超高真空腔體材料,放氣率<5×10?11mbar·L/s·cm2
半導體散熱基板:芯片散熱器材料,熱導率>220W/m·K
超導磁體骨架:核磁共振設(shè)備組件,剩磁<0.5mT
射線窗口材料:X射線透射窗,厚度公差±0.005mm
ASTM B230:電工用鋁錠化學成分標準規(guī)范
ASTM E1251:火花原子發(fā)射光譜分析標準
ISO 209:變形鋁及鋁合金化學成分
ISO 2107:原生鋁錠分類標準
GB/T 1196:重熔用鋁錠技術(shù)要求
GB/T 7999:鋁及鋁合金光電直讀光譜法
GB/T 20975:鋁及鋁合金化學分析方法系列
GB/T 3246.2:變形鋁及鋁合金制品顯微組織檢驗
ISO 11846:鋁及鋁合金晶間腐蝕試驗
ASTM E407:金屬合金微觀浸蝕標準
JIS H2108:高純鋁錠標準規(guī)范
EN 576:鋁及鋁合金錠規(guī)范
GB/T 231.1:金屬材料布氏硬度試驗
ISO 6892:金屬材料拉伸試驗標準
電感耦合等離子體光譜儀:用于50余種痕量元素同步檢測,檢出限達ppb級
輝光放電質(zhì)譜儀:固體直接分析技術(shù),檢測B、Li等輕元素,精度0.001ppm
電子探針顯微分析儀:微區(qū)成分分析,空間分辨率0.5μm,元素范圍B~U
庫侖法氫分析儀:熔融提取法測氫,檢測下限0.01ml/100g,精度±5%
場發(fā)射掃描電鏡:表面形貌觀察及能譜分析,分辨率1.0nm@15kV
X射線衍射儀:晶體結(jié)構(gòu)分析,角度重復性0.0001°,掃描范圍5°~90°
激光導熱儀:熱擴散系數(shù)測量,溫度范圍-150℃~500℃,精度±3%
四探針電阻儀:體電阻率檢測,量程10??~10?Ω·cm,精度±0.5%
微機控制電子萬能試驗機:力學性能測試,載荷范圍0.4~600kN,精度0.5級
全自動顯微硬度計:微觀硬度測試,載荷1~1000gf,分辨率0.01μm
橢偏光譜儀:氧化膜厚度測量,波長范圍190~1700nm,厚度分辨率0.1nm
激光粒度分析儀:粉末夾雜物檢測,測量范圍0.02~2000μm,重復性±0.5%
銷售報告:出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量,讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。
研發(fā)使用:擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設(shè)備,可降低了研發(fā)成本,節(jié)約時間。
司法服務:協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品,進行科研實驗,為相關(guān)部門提供科學、公正、準確的檢測數(shù)據(jù)。
大學論文:科研數(shù)據(jù)使用。
投標:檢測周期短,同時所花費的費用較低。
準確性較高;工業(yè)問題診斷:較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點,以達到盡快止損的目的。
北京中科光析科學技術(shù)研究所承諾:我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點,并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標準,選擇適當?shù)臋z測項目和方法進行分析測試,或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作,我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力,并持續(xù)加強我們團隊的科研技術(shù)。同時,我們將積極跟進新的技術(shù)和標準,以最大程度地滿足您的需求和市場要求。
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