檢測(cè)項(xiàng)目

閾值電流、斜率效率、中心波長(zhǎng)、光譜寬度、邊模抑制比、發(fā)散角（快軸/慢軸）、偏振度、光斑橢圓度、近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)分布、溫度漂移系數(shù)、熱阻參數(shù)、結(jié)電壓降、反向漏電流、功率穩(wěn)定性（短期/長(zhǎng)期）、調(diào)制帶寬、相對(duì)強(qiáng)度噪聲（RIN）、光束質(zhì)量因子（M）、波長(zhǎng)調(diào)諧范圍、壽命加速老化測(cè)試、封裝氣密性測(cè)試、抗靜電能力（ESD）、機(jī)械振動(dòng)耐受度、溫度循環(huán)穩(wěn)定性、儲(chǔ)存環(huán)境適應(yīng)性（高溫高濕）、光纖耦合效率、非線性失真系數(shù)、諧波抑制比、消光比（數(shù)字調(diào)制）、眼圖質(zhì)量參數(shù)（上升/下降時(shí)間）、相位噪聲譜密度。

檢測(cè)范圍

邊發(fā)射激光二極管（EEL）、垂直腔面發(fā)射激光器（VCSEL）、分布式反饋激光器（DFB）、分布式布拉格反射激光器（DBR）、量子級(jí)聯(lián)激光器（QCL）、高功率陣列模塊（Bar條/Stack堆疊）、光纖耦合輸出器件、TO-CAN封裝器件、蝶形封裝器件、COB封裝模組、藍(lán)光/綠光GaN基激光器、紅外波段InGaAsP器件、中紅外帶間級(jí)聯(lián)激光器（ICL）、硅基光子集成芯片（PIC）、可調(diào)諧窄線寬激光源、脈沖調(diào)制型激光模塊（ns/ps級(jí)）、醫(yī)用治療級(jí)激光頭、工業(yè)切割用高功率模塊、光通信SFP+收發(fā)組件、激光雷達(dá)發(fā)射單元（LiDAR）、3D傳感VCSEL陣列、原子鐘泵浦光源、熒光激發(fā)專用光源、精密光譜分析用種子源、材料加工準(zhǔn)連續(xù)（QCW）器件、空間應(yīng)用抗輻射加固器件。

檢測(cè)方法

LIV測(cè)試系統(tǒng)：通過(guò)電流-光功率-電壓同步測(cè)量獲取閾值電流點(diǎn)及效率曲線，采用積分球校準(zhǔn)絕對(duì)光功率輸出。

光譜分析法：使用高分辨率光譜儀（0.01nm精度）測(cè)量中心波長(zhǎng)偏移及邊模抑制比，結(jié)合溫度控制平臺(tái)分析熱致波長(zhǎng)漂移特性。

熱阻測(cè)試法：基于電學(xué)參數(shù)法（ΔV/ΔI）或結(jié)構(gòu)函數(shù)分析法計(jì)算芯片到散熱基板的熱阻值。

光束質(zhì)量分析：采用M測(cè)量?jī)x配合移動(dòng)刀口法或CCD掃描法測(cè)定光束傳播因子及發(fā)散角分布。

加速老化試驗(yàn)：在恒流驅(qū)動(dòng)條件下進(jìn)行85℃/85%RH高溫高濕老化1000小時(shí)，監(jiān)測(cè)光功率衰減速率。

機(jī)械可靠性測(cè)試：依據(jù)MIL-STD-883執(zhí)行隨機(jī)振動(dòng)（20-2000Hz）與沖擊試驗(yàn)（1500g），評(píng)估焊點(diǎn)失效概率。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

IEC60825-1:2014激光產(chǎn)品的安全第1部分：設(shè)備分類和要求

GB/T31358-2015半導(dǎo)體激光器光電性能測(cè)試方法

TelcordiaGR-468-CORE:2009光電子器件可靠性認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)

ISO11146-1:2021激光束寬度、發(fā)散角和光束傳播比的測(cè)試方法

JESD22-A101D:2015穩(wěn)態(tài)溫度濕度偏壓壽命試驗(yàn)

MIL-PRF-38534H:2018混合微電路通用規(guī)范

GB/T2423.10-2019電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)方法

IEC60747-5-3:2020半導(dǎo)體器件光電子器件第5-3部分：激光二極管測(cè)量方法

TIA-455-203-A:2018光纖通信器件測(cè)試程序

SJ/T11498-2015半導(dǎo)體激光器參數(shù)測(cè)試方法

檢測(cè)儀器

高精度光譜分析儀：采用光柵分光結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)0.02nm分辨率波長(zhǎng)測(cè)量，配備InGaAs探測(cè)器覆蓋850-1650nm波段。

積分球輻射測(cè)量系統(tǒng)：直徑500mm積分球配合校準(zhǔn)探測(cè)器實(shí)現(xiàn)0.1%精度光功率絕對(duì)測(cè)量。

熱特性分析儀：基于瞬態(tài)熱測(cè)試法（T3Ster）實(shí)現(xiàn)μs級(jí)時(shí)間分辨率的熱阻參數(shù)提取。

光束質(zhì)量分析儀：配備12bit科學(xué)級(jí)CCD與電動(dòng)變焦透鏡組，支持M因子自動(dòng)計(jì)算及三維光強(qiáng)分布建模。

多通道壽命測(cè)試系統(tǒng)：支持128通道并行老化監(jiān)控，具備實(shí)時(shí)電流補(bǔ)償功能以維持恒定光輸出。

振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)：電磁式振動(dòng)系統(tǒng)提供最大2000kgf推力，滿足10-3000Hz寬頻帶隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試需求。

靜電放電模擬器：符合IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)，接觸放電電壓可達(dá)30kV。

檢測(cè)報(bào)告作用用作

銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說(shuō)服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問(wèn)題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。