檢測項目

總硅含量測定、溶解性硅分析、膠體硅檢測、二氧化硅純度測試、有機硅化合物鑒定、硅酸鹽形態(tài)分析、游離二氧化硅測定、納米硅顆粒表征、單晶硅缺陷檢測、多晶硅雜質(zhì)分析、硅膠吸附性能測試、硅烷純度檢驗、硅油粘度測定、硅橡膠熱穩(wěn)定性評估、硅藻土孔隙度分析、光伏級硅片電阻率測試、半導(dǎo)體晶圓表面金屬污染檢測、石英砂二氧化硅含量測定、水泥中活性二氧化硅分析、玻璃制品析晶度測試、陶瓷釉料熔融特性評估、合金材料滲硅層厚度測量、潤滑油抗泡劑殘留檢測、水處理劑阻垢效率驗證、食品添加劑二氧化硅限量檢驗、藥品包材溶出物分析、化妝品滑石粉伴生石棉篩查、土壤有效硅含量測定、植物可吸收硅形態(tài)分析、工業(yè)廢氣可吸入結(jié)晶二氧化硅監(jiān)測

檢測范圍

工業(yè)循環(huán)水系統(tǒng)水樣、電子級超純水樣品、地表水與地下水樣本、土壤及沉積物樣品、金屬合金材料試樣、光伏單晶/多晶硅錠體塊體材料、半導(dǎo)體晶圓加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析樣品塊體材料加工件表面污染物樣本分析

檢測方法

鉬藍(lán)分光光度法：基于酸性條件下正硅酸與鉬酸銨生成黃色絡(luò)合物，經(jīng)還原后形成藍(lán)色絡(luò)合物進行比色測定；電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：通過高溫等離子體電離待測元素，利用質(zhì)荷比分離實現(xiàn)ppb級痕量硅定量；X射線熒光光譜法（XRF）：采用初級X射線激發(fā)樣品產(chǎn)生特征X射線進行非破壞性元素分析；重量分析法：通過氫氟酸處理使硅轉(zhuǎn)化為四氟化硅揮發(fā)后測定殘留物質(zhì)量變化；紅外光譜法：針對有機硅化合物中特征Si-O鍵振動吸收峰進行定性定量；掃描電子顯微鏡-能譜聯(lián)用（SEM-EDS）：實現(xiàn)微區(qū)形貌觀察與元素組成同步分析；原子吸收光譜法（AAS）：利用空心陰極燈發(fā)射特征譜線測定原子態(tài)硅吸光度；離子色譜法：分離測定不同形態(tài)的溶解性硅酸鹽；激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜（LA-ICP-MS）：適用于固體樣品直接微區(qū)痕量元素分布研究；中子活化分析法：通過核反應(yīng)生成放射性同位素進行超痕量元素測定。

檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T14642-2019工業(yè)循環(huán)冷卻水中硅含量的測定
ISO16258-1:2015工作場所空氣-可吸入結(jié)晶二氧化硅的測定
ASTMD859-16水中二氧化硅的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
JISK0101:2019工業(yè)用水及廢水中硅化合物試驗方法
GB5009.268-2016食品中多元素測定
ISO21587-3:2007鋁硅酸鹽耐火材料的化學(xué)分析
EN196-2:2013水泥試驗方法-化學(xué)分析
GB/T14837-2018橡膠及橡膠制品中二氧化鈦和二氧化硅含量的測定
ASTME247-21鐵礦石中二氧化硅含量的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
ISO21078-1:2008耐火制品中硼酸酐(B2O3)的測定

檢測儀器

紫外可見分光光度計：用于鉬藍(lán)法測定常規(guī)濃度范圍的溶解性硅；電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）：實現(xiàn)ppt級超痕量元素定量及同位素比值測定；波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）：適用于固體樣品的快速多元素同步分析；微波消解系統(tǒng)：用于難溶樣品的密閉高壓酸解前處理；石墨爐原子吸收光譜儀（GFAAS）：針對復(fù)雜基質(zhì)中痕量元素的背景校正測定；傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）：有機官能團結(jié)構(gòu)解析專用設(shè)備；激光粒度分析儀：納米級二氧化硅顆粒粒徑分布表征裝置；熱重-差熱聯(lián)用儀（TG-DTA）：研究含硅材料的相變與熱分解行為；場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）：納米尺度形貌觀察與元素面分布成像；離子色譜系統(tǒng)：分離不同形態(tài)的陰離子型含硅化合物。

檢測報告作用用作

銷售報告：出具正規(guī)第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力。

研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測工程師和先進的測試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時間。

司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測產(chǎn)品，進行科研實驗，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù)。

大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用。

投標(biāo)：檢測周期短，同時所花費的費用較低。

準(zhǔn)確性較高;工業(yè)問題診斷：較短時間內(nèi)檢測出產(chǎn)品問題點，以達(dá)到盡快止損的目的。

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點，并結(jié)合不同行業(yè)和國家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測項目和方法進行分析測試，或根據(jù)您的要求進行試驗分析。為了不斷改進我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測能力，并持續(xù)加強我們團隊的科研技術(shù)。同時，我們將積極跟進新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場要求。