北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所，可為您出具開關(guān)管、功率管、達(dá)林頓管、光敏管等各種半導(dǎo)體三極管檢測(cè)報(bào)告。我所是正規(guī)的科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)，始終以科學(xué)研究為首任，以客戶為中心，在嚴(yán)格的程序下開展檢測(cè)工作，為客戶提供產(chǎn)品檢測(cè)及質(zhì)量控制的解決方案，竭誠為廣大客戶提供科學(xué)的檢驗(yàn)檢測(cè)、研發(fā)分析服務(wù)。

　　檢測(cè)周期：7-15個(gè)工作日出具測(cè)試報(bào)告。

　　檢測(cè)費(fèi)用：免費(fèi)初檢，根據(jù)客戶檢測(cè)需以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)范圍

　　開關(guān)管、功率管、達(dá)林頓管、光敏管，合金管、平面管，低頻管、高頻管、超頻管，插件三極管、貼片三極管等

檢測(cè)項(xiàng)目

　　外觀質(zhì)量、特征頻率、電壓/電流、hFE、VCEO、PCM、電阻率等

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)列舉

　　GB/T 6217-1998 半導(dǎo)體器件 分立器件 第7部分;雙極型晶體管

　　B/T 6219-1998 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分;場(chǎng)效應(yīng)晶體管

　　GB/T 6571-1995 半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分:信號(hào)(包括開關(guān))和調(diào)整二極管

　　GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管

　　GB/T 4587-1994 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管

　　GB/T 3859.1-1993 半導(dǎo)體變流器 基本要求的規(guī)定

　　GB/T 7581-1987 半導(dǎo)體分立器件外形尺寸

　　IEC 62860-1-2013 基于環(huán)形振蕩器的有機(jī)晶體管特征描述試驗(yàn)方法

　　IEC 62860-2013 有機(jī)晶體管和材料特征描述試驗(yàn)方法

　　BS IEC 60747-8-2010 半導(dǎo)體裝置.分立器件.場(chǎng)效應(yīng)晶體管

　　ASTM F996-2011 利用次臨界伏安特性測(cè)定由于氧化空穴和界面性能產(chǎn)生的電離輻射感生金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)應(yīng)晶體管臨界電壓偏移分量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

　　BS EN 62416-2010 半導(dǎo)體器件.金屬氧化物半導(dǎo)體(MOS)晶體管的熱載流子試驗(yàn)

　　IEC 62416-2010 半導(dǎo)體器件.MOS晶體管上的熱載流子試驗(yàn)

　　ANSI/IEEE 1620-2008 有機(jī)晶體管和材料特性的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

　　NF C96-051-2006 金屬氧化半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET)的基本溫度穩(wěn)定性試驗(yàn)

　　IEEE 1620.1-2006 有機(jī)電晶體管環(huán)形振蕩器特性的試驗(yàn)方法

　　IEEE 1620-2004 有機(jī)晶體管和材料特性的試驗(yàn)方法

　　ASTM F528-1999 結(jié)型晶體管共射極直流增益測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

　　SJ 2148-1982 硅穩(wěn)流三極管動(dòng)態(tài)阻抗的測(cè)試方法

　　SJ 1638-1980 3DD155型、3DD156型NPN硅擴(kuò)散臺(tái)面低頻大功率三極管

　　SJ 1420-1978 3DA104型NPN硅高頻大功率三極管

檢測(cè)報(bào)告作用

　　1.用作銷售報(bào)告：出具正規(guī)第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶更加信賴自己的產(chǎn)品質(zhì)量，讓自己的產(chǎn)品更具有說服力;

　　2.研發(fā)使用：擁有優(yōu)秀的檢測(cè)工程師和先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備，可降低了研發(fā)成本，節(jié)約時(shí)間;

　　3.司法服務(wù)：協(xié)助相關(guān)部門檢測(cè)產(chǎn)品，進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)，為相關(guān)部門提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù);

　　4.大學(xué)論文：科研數(shù)據(jù)使用;

　　5.投標(biāo)：檢測(cè)周期短，同時(shí)所花費(fèi)的費(fèi)用較低，準(zhǔn)確性較高;

　　6.工業(yè)問題診斷：較短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出產(chǎn)品問題點(diǎn)，以達(dá)到盡快止損的目的。

半導(dǎo)體三極管檢測(cè)流程

　　1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

　　2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

　　3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

　　4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

　　5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

　　6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

　　7、確認(rèn)完畢后出蓋章并出報(bào)告正式件

　　8、寄送報(bào)告原件

我們的承諾

　　北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所承諾：我們將根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點(diǎn)，并結(jié)合不同行業(yè)和國(guó)家的法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，選擇適當(dāng)?shù)臋z測(cè)項(xiàng)目和方法進(jìn)行分析測(cè)試，或根據(jù)您的要求進(jìn)行試驗(yàn)分析。為了不斷改進(jìn)我們的工作，我們致力于提高產(chǎn)品質(zhì)控分析、使用性能檢測(cè)能力，并持續(xù)加強(qiáng)我們團(tuán)隊(duì)的科研技術(shù)。同時(shí)，我們將積極跟進(jìn)新的技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以最大程度地滿足您的需求和市場(chǎng)要求。