掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM):SEM用于對MEMS微結(jié)構(gòu)的表面形貌和結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨率的觀察和成像。它可以提供微米級別的圖像細(xì)節(jié),幫助檢查器件結(jié)構(gòu)的完整性和形狀。
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM):AFM用于測量MEMS微結(jié)構(gòu)的表面形貌和納米級別的力學(xué)性質(zhì)。它通過探針與樣品表面的相互作用來獲取高分辨率的表面拓?fù)鋱D像和力學(xué)特性。